| 類型 | 便攜式靜電測試儀 | 品牌 | 春日KASUGA |
| 型號 | KSD-0303KSD-3000 | 測量范圍 | 1-5000 |
| 精確度 | 1 | LCD顯示更新 | 有 |
| 重量 | 0.022（kg） | 外形尺寸 | 117*70*24（mm） |
測量各種電子設(shè)備(半導(dǎo)體IC，光頭，GMR頭等)的帶電電位。
測量基板、平面控電板等的電位分布。
測量其他帶電量較少的東西。
電子部品設(shè)備的抗靜電性越來越小、靜電管理電壓也在不斷下降。用以前各種類測量儀來測量有困難。數(shù)字低電位測量儀可以測量100v以下的帶電(測量范圍從1v開始)。也可測量LSI表面等窄區(qū)域的靜電。
能測量靜電破壞原因的低電位靜電。
根據(jù)縮短測量距離、指定測量區(qū)域、可以在約20mm正方區(qū)域里進(jìn)行測量。也能測量高精度小電子部品的表面電位。
顯示部和測量部分離、在狹小的地方能測量、并能直接觀察測量值。
從小電子零部件到大物體電位分布進(jìn)行測量。
有2種測量模式; 保持頂峰值測量和連續(xù)測量
電子部品設(shè)備的抗靜電性越來越小、靜電管理電壓也在不斷下降。用以前各種類測量儀來測量有困難。數(shù)字低電位測量儀可以測量100v以下的帶電(測量范圍從1v開始)。也可測量LSI表面等窄區(qū)域的靜電。
能測量靜電破壞原因的低電位靜電。
根據(jù)縮短測量距離、指定測量區(qū)域、可以在約20mm正方區(qū)域里進(jìn)行測量。也能測量高精度小電子部品的表面電位。
顯示部和測量部分離、在狹小的地方能測量、并能直接觀察測量值。
從小電子零部件到大物體電位分布進(jìn)行測量。
有2種測量模式; 保持頂峰值測量和連續(xù)測量
電子部品設(shè)備的抗靜電性越來越小、靜電管理電壓也在不斷下降。用以前各種類測量儀來測量有困難。數(shù)字低電位測量儀可以測量100v以下的帶電(測量范圍從1v開始)。也可測量LSI表面等窄區(qū)域的靜電。
?能測量靜電破壞原因的低電位靜電。
?根據(jù)縮短測量距離、指定測量區(qū)域、可以在約20mm正方區(qū)域里進(jìn)行測量。也能測量高精度小電子部品的表面電位。
?顯示部和測量部分離、在狹小的地方能測量、并能直接觀察測量值。
?從小電子零部件到大物體電位分布進(jìn)行測量。
?有2種測量模式; 保持頂峰值測量和連續(xù)測量
電子部品設(shè)備的抗靜電性越來越小、靜電管理電壓也在不斷下降。用以前各種類測量儀來測量有困難。數(shù)字低電位測量儀可以測量100v以下的帶電(測量范圍從1v開始)。也可測量LSI表面等窄區(qū)域的靜電。
?能測量靜電破壞原因的低電位靜電。
?根據(jù)縮短測量距離、指定測量區(qū)域、可以在約20mm正方區(qū)域里進(jìn)行測量。也能測量高精度小電子部品的表面電位。
?顯示部和測量部分離、在狹小的地方能測量、并能直接觀察測量值。
?從小電子零部件到大物體電位分布進(jìn)行測量。
?有2種測量模式; 保持頂峰值測量和連續(xù)測量
| 型式 | KSD-0303 |
| 檢出方式 | 振蕩型表面電位傳感器 |
| 測定范囲 | ±１～±５０００Ｖ |
| 模擬輸出 | ０～±５００ｍＶ |
| 測量精度 | ±１０％以內(nèi) |
| 測量基準(zhǔn)距離 | １０ｍｍ |
| 測量方式 | 連續(xù)測量 |
| 環(huán)境 | 溫度０～４０℃、濕度６５％ＲＨ以下（沒有結(jié)露） |
| 電源 | 使用單4堿干電池2個連續(xù)4小時以上） |
| 尺寸 | 本體：１１７（Ｄ）ｘ７０（Ｗ）ｘ２４（Ｈ）ｍｍ
探頭：１１７（Ｌ）ｍｍｘ１８Φ |
| 質(zhì)量 | 約２２０ｇ（含干電池） |
| 選擇 | ＡＣ電源適配器（ＡＣ１００～２４０Ｖ）
記錄計連接電纜（Ｌ＝１０００ｍｍ） |
●用途
測量各種電子設(shè)備(半導(dǎo)體IC，光頭，GMR頭等)的帶電電位。
測量基板、平面控電板等的電位分布。
測量其他帶電量較少的東西。
電子部品設(shè)備的抗靜電性越來越小、靜電管理電壓也在不斷下降。用以前各種類測量儀來測量有困難。數(shù)字低電位測量儀可以測量100v以下的帶電(測量范圍從1v開始)。也可測量LSI表面等窄區(qū)域的靜電。
能測量靜電破壞原因的低電位靜電。
根據(jù)縮短測量距離、指定測量區(qū)域、可以在約20mm正方區(qū)域里進(jìn)行測量。也能測量高精度小電子部品的表面電位。
顯示部和測量部分離、在狹小的地方能測量、并能直接觀察測量值。
從小電子零部件到大物體電位分布進(jìn)行測量。
有2種測量模式; 保持頂峰值測量和連續(xù)測量
電子部品設(shè)備的抗靜電性越來越小、靜電管理電壓也在不斷下降。用以前各種類測量儀來測量有困難。數(shù)字低電位測量儀可以測量100v以下的帶電(測量范圍從1v開始)。也可測量LSI表面等窄區(qū)域的靜電。
能測量靜電破壞原因的低電位靜電。
根據(jù)縮短測量距離、指定測量區(qū)域、可以在約20mm正方區(qū)域里進(jìn)行測量。也能測量高精度小電子部品的表面電位。
顯示部和測量部分離、在狹小的地方能測量、并能直接觀察測量值。
從小電子零部件到大物體電位分布進(jìn)行測量。
有2種測量模式; 保持頂峰值測量和連續(xù)測量
電子部品設(shè)備的抗靜電性越來越小、靜電管理電壓也在不斷下降。用以前各種類測量儀來測量有困難。數(shù)字低電位測量儀可以測量100v以下的帶電(測量范圍從1v開始)。也可測量LSI表面等窄區(qū)域的靜電。
?能測量靜電破壞原因的低電位靜電。
?根據(jù)縮短測量距離、指定測量區(qū)域、可以在約20mm正方區(qū)域里進(jìn)行測量。也能測量高精度小電子部品的表面電位。
?顯示部和測量部分離、在狹小的地方能測量、并能直接觀察測量值。
?從小電子零部件到大物體電位分布進(jìn)行測量。
?有2種測量模式; 保持頂峰值測量和連續(xù)測量
奈良-陳先生
